Q45扫描电子显微镜
为各种样品在高真空、低真空和环境真空下灵活地表征。

为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求,FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据:表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成。

今天的研究超越了简单的金属和喷镀样品。Q45 SEM为从传统样品如金属、断口和抛光的截面到不导电软材料提供了顶级质量的图像和分析,来自FEI的Q45 SEM为目前的和未来的研究应用提供了先进的和灵活的解决方案。具有三种成像模式特点---高真空、低真空和环境真空ESEM™,它可以适应任何SEM系统的最宽范围的样品。
Q45 SEM拥有简单易用和灵活的用户界面,具有最大化工作效率和允许收集所有数据的能力。在设计时考虑到各种经验水平的用户,Q45的易用性是最好的。导航特点包括自动蒙太奇导航,双击移动样品台,拖拽移动缩放和其它有用的集成为标配功能特点。SmartSCAN™技术采用聪明的扫描策略使得更容易减少噪声和提供更好的数据。
更好的数据、更多的灵活性、更高的效率。Q45 SEM系列为您的投资带来更多价值。

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